快速溫變試驗箱溫場(chǎng)容積電子溫濕度性檢測

簡(jiǎn)要描述：快速溫變試驗箱溫場(chǎng)容積電子溫濕度性檢測
適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下檢驗其各性能項指標。

產(chǎn)品型號： TEC-225PF

所屬分類(lèi)：225L快速溫變試驗箱

更新時(shí)間：2024-07-03

廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家

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詳情介紹

快速溫變試驗箱溫場(chǎng)容積電子溫濕度性檢測

設備滿(mǎn)足以下標準

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法總則
GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.9A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗

適應于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品電子零組件，成品、半成品、半導體、化學(xué)、材料等個(gè)中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗及應力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價(jià)（快速變化）

快速溫變試驗箱溫場(chǎng)容積電子溫濕度性檢測

制冷原理
快速溫度變化試驗箱高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個(gè)等溫過(guò)程和兩個(gè)絕熱過(guò)程組成。其過(guò)程如下：制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換，將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功，這時(shí)制冷劑溫度降低。后制冷劑通過(guò)蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復始從而達到降溫之目的。